在锂电池生产的前端工序中，极片制造是重要环节。极片面密度与厚度的精度控制直接影响锂电池的容量与安全性，因此，锂电池制造对面密度检测设备有着极高的要求。随着极片宽度的增加，涂布机速度的提升，导致采样率大幅度降低。宽幅、高速的极限产能和对测量效率的要求提高，以及涂布边缘削薄区精确测量的极高质量要求，导致旧有的设备已不能满足需求，市场在期待一款扫描效率更快、分辨力更强的面密度测量仪。作为极片测量的领导者，大成精密以其深厚的研发能力和扎实、深厚的技术积淀，推出了Super X-Ray面密度测量仪。据悉，大成精密Super X-Ray面密度测量仪可适应超过1600mm幅宽的测量，支持超高速扫描，可检测削薄区、划痕、陶瓷边等微小特征，助力解决涂布闭环实施问题。其核心优势也十分突出：1、超宽幅涂布测量:可适应超过1600mm幅宽的测量；2、超高速涂布扫描：扫描速度0-60米/分可调；3、创新固态半导体探测器：大成自主研发的锂电行业创新极片测量固态半导体射线探测器，微秒级响应性，响应速度较传统方案提升10倍；4、高速、高精度直线电机驱动: 扫描速度较传统方案提高3-4倍；5、自研高速测量电路：采样频率可达200kHz，提升涂布闭环的效率与准确性；6、削薄容量损失计算：Super X-Ray光斑宽度最窄可达1mm，可以准确测量极片涂覆区“边缘削薄轮廓、划痕”等细节特征，削薄容量损失最大可能超过2%。除此以外，Super X-Ray面密度测量仪软件功能齐全，测量系统主界面可自定义显示，可进行削薄区判定、容量判定、划痕判定等。在落地应用方面，大成精密Super X-Ray面密度测量仪表现也相当出色。某锂电行业龙头企业现场使用Super X-Ray面密度测量仪进行分区数据MSA验证的使用反馈：%P/T着重评估测量系统针对相关产品规格的测量效果，强调测量系统对公差界限的分析性能（判断产品是否合格）能否测量得足够精确。%GageR&R着重评估测量系统对整体过程变异的测量效果，强调测量系统对生产过程改进分析性能（过程是否已有改进）能否测量得足够精确。%P/T和％GageR&R是评估测量系统性能的两个不同方面，缺少其中任何一个都将是不全的。一个好的测量系统，必须同时使这两项指标都足够小，下表归纳了两个指标的判断依据：测量系统合格标志%GageR&R或％P/T测量系统能力小于10%良 好介于10%~30%勉强可接受＞30%不合格大成精密Super X-Ray面密度测量仪在该客户的应用中表现为：40米/分钟扫描速度%GRR 3.85％，%P/T 2.40%；60米/分钟扫描速度%GRR 5.12％、%P/T 2.85%。其结果远远超出优秀判定值，可以确信，Super X-Ray面密度测量仪大大提高扫描效率、提高生产效率，给客户带来更好的生产效益，获得了客户的高度肯定。从此次大成精密的Super X-Ray面密度测量仪的客户使用反馈，可以窥见大成精密的产品实力、研发实力和技术实力，作为极片测量领域的领导者，大成精密实力不容小觑！}